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反射測試中，定向耦合器對于被測件反射信號而言是正向連接，定向耦合器耦合端輸出反映反射信號信息。

網(wǎng)絡(luò )分析儀測試反射特性時(shí)，由于定向耦合器有限的方向性影響，耦合器耦合端會(huì )包含泄露的輸入激勵信號，該信號會(huì )與反射信號進(jìn)行矢量疊加，造成反射指標測試誤差。被測件匹配性能越好，定向耦合器方向性對測試影響越大。由功分器，定向耦合器及輸出端得到的信號輸入到相應接收機進(jìn)行處理，為對這些信號進(jìn)行分析，網(wǎng)絡(luò )分析儀內置多臺接收機。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

兩個(gè)內置信號源的性能增強也會(huì )簡(jiǎn)化放大器和混頻器測量。例如，測試端口可利用的大信號功率通常為+13至+20 dBm（取決于型號和頻率）。這對將放大器驅動(dòng)到非線(xiàn)性區很有幫助，并且在把信號源用作測試混頻器的LO信號時(shí)也經(jīng)常要這樣。這兩個(gè)內置信號源的諧波成分也非常低（通常為–60 dBc 或更低），從而提高諧波和IMD測量的精度。此外，典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時(shí)很容易就可以讓放大器從線(xiàn)性工作范圍轉化到非線(xiàn)性工作范圍。

內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器，測試時(shí)除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個(gè)信號源對掃描LO測試十分有用，在測試時(shí)LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描，但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比，使用從VNA內部信號源引出的信號作為L(cháng)O信號在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍）。